高溫霍爾效應測試儀是利用范德堡測量技術在不同溫度和不同磁場時對半導體材料的電阻率、載流子濃度、磁致電阻率、霍爾系數(shù)、電子遷移率等進行測量，用來表征和了解材料的物理性質。該高溫霍爾效應測試儀主要可包括霍爾效應測量控制系統(tǒng)、變溫控制器、磁場控制系統(tǒng)三部分。

　　高溫霍爾效應測試儀是性能穩(wěn)定、功能強大、性價比高的霍爾效應儀，在國內高校、研究所及半導體業(yè)界擁有廣泛的用戶和度。本儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要特性參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或體材料均可，其原理主要依據范德堡法則。除了用來判斷半導體材料之型態(tài)(n或p)以外，它也可應用于LED磊晶層的質量判定，也可以用來判斷在HEMT組件中二維電子氣是否形成，此未還可以用于太陽能電池片的制程輔助。

　　高溫霍爾效應測試儀主要特點

　　1）寬的工作溫度范圍（70-730K）；

　　2）高的溫度穩(wěn)定性和重復性（±0.1K）；

　　3）可選電磁場（1.4T和5000高斯）和永磁體5000高斯；

　　4）靈活配置的模塊設計，可以根據經費和實驗需求組建系統(tǒng)；

　　5）低運行成本；

　　6）無機械、聲學和電子噪聲；

　　7）高溫霍爾效應測試儀可與塞貝克效應測試儀（熱電效應測試儀或熱電系數(shù)測試儀）公用平臺。