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更新時(shí)間：2020-11-01
廠商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商
開(kāi)爾文探針（Kelvin Probe）是一種非接觸無(wú)損震蕩電容裝置，用于測(cè)量導(dǎo)體材料的功函數(shù)（Work Function）或半導(dǎo)體、絕緣表面的表面勢(shì)（Surface Potential）。材料表面的功函數(shù)通常由上層的1-3層原子或分子決定，所以開(kāi)爾文探針是一種的表面分析技術(shù)。主要型號(hào)：KP020 （單點(diǎn)開(kāi)爾文探針），SKP5050（掃描開(kāi)爾文探針）。
更新時(shí)間：2020-11-01
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光學(xué)薄膜測(cè)厚儀 薄膜表面或界面的反射光會(huì)與從基底的反射光相干涉，干涉的發(fā)生與膜厚及折光系數(shù)等有關(guān)，因此可通過(guò)計(jì)算得到薄膜的厚度。光干涉法是一種無(wú)損、且快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量技術(shù)，我們的薄膜測(cè)量系統(tǒng)采用光干涉原
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