美國APT開爾文探針簡介：

   開爾文探針是一種基于振動電容的非接觸無損氣相環(huán)境金屬表面電位的測量技術，用于測量材料的功函數(Work Function)或表面勢(Surface Potential)。它可以用于檢測氣相環(huán)境中因溫度、濕度、表面的化學、電學、力學、晶體、吸附、成膜等因素引起的材料表面電勢的微小變化，是一種高靈敏的表面電化學分析技術，是只有能夠測定氣相環(huán)境中腐蝕電極表面電位的方法。

美國APT開爾文探針電學特點：

Current leakage: < 10 fA   (漏電精度高)

Frequency: > 150 MHz       (測試頻率高)

Capacitance (Guarded): < 10 fF

Impedance: 50 Ohm

Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C

Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level

備注：

APT開爾文探針適用于四線法測試 ，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響 ，保證小電阻的測試準確性。

另外 ，一些高頻測試 ，比如150M左右 ，也可以采用這個。

D.   GGB 12C有源探頭

•輸入電容0.1pf

•輸入電阻1.0兆歐

•工作電壓范圍 -10 to +20V

•帶寬dc to 500 MHz

• 12C夾具替換用探針  ( 12C-x-xx)

•射頻探針夾具源 ，可以同時支持兩個探頭使用  ( PS-2)

常用Model 40A系列

產品特點：

( 1)   測試頻率范圍：      DC to 40 GHz

( 2)   輸入衰減   ≤ 0.8db

( 3)   反射損耗≧ 18 db

(4)   腳間距:25 to 2540um可選  (腳間距越大  ，    損耗越嚴重)

( 5)   測試重復性優(yōu)于-80db

( 6)   單獨彈簧加載觸點設計

( 7)   材質：      BeCu , TungQRen or Nickel tips available

( 8)     GSG  ，    SG  ，    SG  ，    GSGSG 等可選

( 9)   同軸設計